|
Vyučující
|
|
|
|
Obsah předmětu
|
1. Úvod (rozdělení topografických metod; rozdíl mezi optickými a neoptickými metodami; obecné vlastnosti metod; topografie x profilometrie; vrstevnicová mapa - kvalitativní hodnocení, čtení mapy; datový soubor - možnosti zobrazení 3D předmětu v 2D prostoru, drátěný model, barevný a šedý model, WRML model; způsoby vytvoření optické stopy na měřeném povrchu - projektory; principy kalibrace měření) 2. Moiré jev (teorie; vznik, metody popisu a typy moiré obrazců; metody washing-up, fringe-shifting, ODFM; měřené veličiny - výchylka, odchylka, hloubka) 3. Moiré metody (stínová, jednoprojektorová a dvouprojektorová moiré topografie)(teoretický popis; vlastnosti obrazce; možnosti experimentálního uspořádání; užívané metody zlepšení obrazce - digitální úpravy obrazu, srovnání vlastností a možností použití jednotlivých metod, praktické laboratorní ukázky) 4. Fourierovská profilometrie (základní vztahy a principy Fourierovské analýzy; teoretický popis profilometrie; možnosti experimentálního uspořádání; souvislost a srovnání vlastností s moiré metodami; praktické laboratorní ukázky) 5. Triangulační profilometrie (teoretický popis profilometrie; principy určení topografické hloubky; souvislost s moiré metodami; princip postupného skenování povrchu; možnosti experimentálního uspořádání; praktické laboratorní ukázky) 6. Stereoskopická profilometrie (princip stereoskopického vidění; teoretický popis; užívané typy projektované optické struktury; možnosti experimentálního uspořádání; praktické laboratorní ukázky) 7. Další metody (možnosti využití jevů interference či holografie pro měření tvaru předmětů - Michelsonův interferometr, speckle a holografická interferometrie)
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
Metody práce s textem (učebnicí, knihou), Demonstrace
- Účast na výuce
- 26 hodin za semestr
- Příprava na zápočet
- 24 hodin za semestr
- Domácí příprava na výuku
- 10 hodin za semestr
|
|
Výstupy z učení
|
Cílem je seznámit studenty s metodami: Topografické metody, Moiré jev, Fourierovská-, triangulační-, tereoskopická- profilometrie.
Popsat a identifikovat příslušné optické topografické metody.
|
|
Předpoklady
|
Není specifikováno.
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
Písemná zkouška, Analýza výkonů studenta, Rozhovor
Znalosti v rozsahu přednášené problematiky (přezkoušení).
|
|
Doporučená literatura
|
-
Journal of Optical Engineering, Journal of Applied Optics, SPIE Proceedings and other scientific literature according to the recommendations of the lecturer.
-
Laermann K.-H. (2000). Optical methods in experimental solid mechanics. Springer Wien.
-
Malacara D. (1992). Optical shop testing. John Wiley, New York.
-
Parks V.J. (1993). Handbook on Experimental Machanics. VCH Publishers, New York.
-
Post, D., Han B., Ifju P. (1994). High sensitivity moiré. Experimental Analysis for Mechanics and Materials. Springer Verlag, New York.
|