|
Vyučující
|
-
Berka Karel, doc. RNDr. Ph.D.
-
Panáček Aleš, doc. RNDr. Ph.D.
-
Filip Jan, Mgr. Ph.D.
|
|
Obsah předmětu
|
1. Úvod do zdrojů RTG záření, charakter RTG záření, úprava RTG svazku s ohledem na použití v instrumentálních analytických metodách, základy radiační ochrany. 2. Difrakce RTG záření na periodické atomové mřížce, základní přehled krystalografie, základy monokrystalové RTG difrakce, RTG prášková difrakce - teoretické základy, instrumentace, příprava vzorků, vyhodnocení difrakčních záznamů, kvantitativní fázová analýza, Rietveldova analýza, specifika při studiu nanostruktur, vysokoteplotní/nízkoteplotní RTG difrakce, analýza tenkých vrstev, vztahy s elektronovou a neutronovou difrakcí. 3. Maloúhlový rozptyl RTG záření (SAXS) - teoretické základy, instrumentace pro anorganické a organické systémy, standardizace, příprava vzorků, vyhodnocení výsledků. 4. RTG fluorescenční spektroskopie - teoretické základy, instrumentace (energiově-disperzní, vlnově disperzní spektrometry), standardizace, příprava vzorků, vyhodnocení výsledků, další využití fluorescenčních spektrometrů (elektronová mikroanalýza, přenosné spektrometry apod.). 5. RTG fotoelektroná a Augerova spektroskopie - teoretické základy, základní rozbor analýzy povrchů, instrumentace, příprava vzorků, vyhodnocení spekter, úhlově-rozlišená RTG fotoelektronová spektroskopie, hloubkové profilování, ultrafialová spektroskopie. 6. RTG absorpční spektroskopie - teoretické základy, instrumentace a varianty měření (XANES, EXAFS), příprava vzorků, standardizace, vyhodnocení výsledků.
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
Monologická (výklad, přednáška, instruktáž), Demonstrace, Laborování
- Domácí příprava na výuku
- 20 hodin za semestr
- Příprava na zkoušku
- 40 hodin za semestr
- Účast na výuce
- 26 hodin za semestr
|
|
Výstupy z učení
|
Cílem je seznámit studenty se základy instrumentálních metod využívajících RTG záření (difrakční a spektroskopické metody) a jejich využití pro charakterizaci (nano)materiálů.
Definovat hlavní pojmy z oblasti základů instrumentálních metod využívajících RTG záření, popsat hlavní přístupy při aplikaci RTG metod pro studium (nano)materiálů, prokázat teoretické znalosti pro řešení modelových problémů.
|
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
Rozhovor
Účast ve výuce. Znalost tématu, schopnost diskutovat o tématu v širších souvislostech.
|
|
Doporučená literatura
|
-
Cahn, R.W., Haasen, P. & Kramer, J. (Eds.). (2005). Materials science and technology, a comprehensive treatment. Vol. 2a/2b: Characterization of materials. - WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA (2005).
-
Clearfield, A., Reibenspies, J.H. & Bhuvanesh, N. (Eds.). (2008). Principles and Applications of Powder Diffraction. Blackwell Publishing Ltd.
-
Hofmann, S. (2013). Auger- and X-ray Photoelectron Spectroscopy in Material Science. Springer Series in Surface Sciences 49, Springer-Verlag Berlin, Heidelberg.
-
Pecharsky, V.K. & Zavalij, P.I. (2009). Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials. Springer Science+Business Media, LLC.
|