|
Vyučující
|
-
Matěj Adam, Mgr. Ph.D.
-
Panáček Aleš, doc. RNDr. Ph.D.
-
Berka Karel, doc. RNDr. Ph.D.
|
|
Obsah předmětu
|
Úvod Teoretické principy rastrovacích mikroskopů Funkční typy rastrovacích mikroskopů Základy ultravysokého vakua Rastrovací tunelovací mikroskopie Mikroskopie atomárních sil Mikroskopie Kelvinovou sondou Pokročilé spektroskopie Atomární a spinové rozlišení povrchů pevných látek Atomární manipulace Pokročilé aplikace rastrovacích mikroskopií
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
|
Přednášení
|
|
Výstupy z učení
|
Cílem přednášky je poskytnout hlubší základy rastrovacích mikroskopů a jejich aplikací v současné vědě. Probereme základní teorii a konstrukční schémata rastrovacích tunelovacích mikroskopů a mikroskopů atomárních sil. Dále se budeme zabývat různými principy měření včetně pokročilých spektroskopií (např. tunelovací, neelastická tunelovací či silová spektroskopie). Vysvětlíme základní principy měření Kelvinovou sondou a problematiku kombinace rastrovacích tunelovacích mikroskopů a mikroskopů atomárních sil. Probereme atomární a spinové rozlišení, druhy atomární manipulace či pokročilá měření mechanických a transportních vlastností nanostruktur.
Principy rastrovací tunelovací mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, Kelvinovy sondy, získání a využití atomárního rozlišení, atomární manipulace.
|
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
Ústní zkouška
Základy kvantové mechaniky
|
|
Doporučená literatura
|
-
Chen, C. J. (2007). Introduction to Scanning Tunneling Microscopy. Oxford.
-
Mironov, V. L. (2004). Fundamentals of Scanning Probe Microscopy.
-
Vogitlander, B. (2015). Scanning Probe Microscopy. Springer.
|