Vyučující
|
-
Kubínek Roman, doc. RNDr. CSc.
|
Obsah předmětu
|
Světelná mikroskopie Metoda fázového kontrastu, UV a IČ mikroskopie, Fluorescenční mikroskopie, Polarizační mikroskopie, Interferenční mikroskopie (Nomarského interferenční kontrast, Hofmanův modulační kontrast), Konfokální laserová mikroskopie, Optická skenovací mikroskopie v blízkém poli. Elektronová mikroskopie Transmisní elektronová mikroskopie, Rastrovací elektronová mikroskopie, Nízkonapěťová elektronová mikroskopie, Elektronová mikroskopie s vysokým rozlišením, Elektronová mikroskopie s volitelným vakuem (biologické aplikace). Mikroskopie skenující sondou Skenující tunelová mikroskopie, Mikroskopie atomárních sil, Mikroskopie magnetických sil, Mikroskopie elektrostatických sil, Mikroskopie laterálních sil, Skenovací kapacitní mikroskopie, Skenovací teplotní mikroskopie, Skenovací optická mikroskopie v blízkém poli.
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
Přednášení
- Účast na výuce
- 36 hodin za semestr
|
Výstupy z učení
|
Světelná mikroskopie. Elektronová mikroskopie. Mikroskopie skenující sondou.
Předmět zaměřený na schopnost pochopení principů optických, elektronoptických metod a metod využívajících skenující sondy. Hodnotit konkrétní metody a postupy, vysvětlit aspekty a výsledky týkající se dané problematiky, integrovat poznatky, předpovídat řešení, hodnotit výsledky a formulovat závěry.
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
Známkou, Seminární práce
Znalost teoretickch základů mikroskopických metod a jejich využití v praxi
|
Doporučená literatura
|
-
Douglas B. Murphy. (2001). Fundamentals of Ligt Microscopy and Electronic Imagin. Wiley-Liss.
-
Kubínek, R., Mašláň, M., Vůjtek, M. (2002). Mikroskopie skenující sondou. UP Olomouc.
-
Reimer, L. (1998). Scanning Electron Microscopy.Physics of Image Formation and Microanalysis.. Springer.
-
Vůjtek, M., Kubínek, R., & Mašláň, M. (2012). Nanoskopie. V Olomouci: Univerzita Palackého.
|