|
Vyučující
|
-
Nemec Ivan, doc. Ing. Ph.D.
|
|
Obsah předmětu
|
Rozbor faktorů ovlivňujících intenzitu difrakcí. Snímkování - druhy scanu. Typy difraktometrů - inklinační, ekvatoriální a s kappa-osou. Nejmodernější směry vývoje metodiky (synchrotronové zdroje záření; detektory - CCD, imaging plates; výpočetní technika). Měření za nízkých teplot. Základy neutronové difrakce. Vztah krystalografie a Internetu. Krystalografický software - nejpoužívanější programové balíky potřebné k řešení struktur (SHELX, SIR97, WinGX, DIRDIF, XTAL aj.). Problémy při řešení struktur, konkrétní ukázky. Práce s krystalografickými databázemi. Vizualizační software (ORTEP, BABEL, VMD, XP, ISIS Draw, VebLab Viewer, atd.).
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
|
Přednášení
|
|
Výstupy z učení
|
Předmět seznamuje studenty se základními pojmy z krystalochemie a rentgenostrukturní analýzy.
Vybavit si rentgenostrukturní difrakční analýza - teorie, metody, nové postupy, aplikace.
|
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
Ústní zkouška
|
|
Doporučená literatura
|
-
(1998). Crystallographic Instrumentation by L. A. Aslanov, G. V. Fetisov and J. A. K. Howard. Edited by J.A.K Howard, International Union of Crystallography, Oxford University Press.
-
(1983). International Tables for Crystallography. Reidel Publishing Company, Dordrecht, Boston.
-
Manuály k programovým balíkům. (k dispozici v elektronické podobě).
-
Giazovazzo, C. et al. (1994). Fundamentals of Crystallography. Oxford Science Publications, IUCr.
-
Glusker, J. P., Lewis, M. & Rossi, M. (1994). Crystal Structure Analysis for Chemists and Biologists. VCH Publishers, New York.
-
Luger, P. (1980). Modern X-ray analysis of single crystals. W. de Gruyter, Berlin-New York.
|