Předmět: Číslicové měřící systémy 3

» Seznam fakult » PRF » KEF
Název předmětu Číslicové měřící systémy 3
Kód předmětu KEF/ČMSA3
Organizační forma výuky Cvičení
Úroveň předmětu Bakalářský
Rok studia nespecifikován
Semestr Letní
Počet ECTS kreditů 3
Vyučovací jazyk Čeština
Statut předmětu Povinně-volitelný
Způsob výuky Kontaktní
Studijní praxe Nejedná se o pracovní stáž
Doporučené volitelné součásti programu Není
Vyučující
  • Pechoušek Jiří, doc. RNDr. Ph.D.
  • Kouřil Lukáš, Mgr.
Obsah předmětu
- Programování číslicových měřicích systémů, tvorba aplikací využívajících multifunkční měřicí karty, tvorba aplikací v měřicím systému GPIB, programování systému PXI se systémem reálného času LabVIEW RT). - Pokročilé programování v LabVIEW, využití dalších nástrojů LabVIEW (programové balíčky). systémy pro průmyslové aplikace. - Vývoj real-time měřicích aplikací v systémech sbRIO a CompactRIO využívajících FPGA prvek. - Tvorba komplexních měřicích systémů. - Zpracování signálu a analýza dat v SW Wolfram Mathematica.

Studijní aktivity a metody výuky
Přednášení, Monologická (výklad, přednáška, instruktáž)
  • Účast na výuce - 39 hodin za semestr
  • Příprava na zkoušku - 20 hodin za semestr
  • Domácí příprava na výuku - 20 hodin za semestr
Výstupy z učení
Studenti získají znalosti o vývoji tzv. virtuálních měřicích systémů. Výuka navazuje na předmět Číslicové měřicí systémy 1 a 2 (KEF/ČMSA1, KEF/ČMSA2).
Předmět zaměřený na získání znalostí. Definovat hlavní pojmy, popsat hlavní přístupy, prokázat teoretické znalosti pro řešení modelových problémů.
Předpoklady
Základní znalosti z oblasti počítačových technologií a měření.
KEF/ČMSA2

Hodnoticí metody a kritéria
Známkou, Ústní zkouška, Analýza výkonů studenta

Složení zkoušky, písemná a ústní část. Vykonání praktické úlohy (zápočet). Aktivní účast v hodině, plnění zadaných úkolů.
Doporučená literatura
  • LabVIEW Measurement Manual. National Instruments.
  • LabVIEW Measurement Manual. National Instruments.
  • LabVIEW User Manual. National Instruments.
  • (2008). LOGO! 0BA6, příručka. Mikrosystémy. Siemens.
  • (2005). SIMATIC S7-200, systémový manuál. Siemens.
  • De Asmundis, R. (ed). (2011). LabVIEW - Modeling, Programming and Simulations. InTech, Rijeka.
  • Haasz V., Roztočil J., Novák J. (2000). Číslicové měřicí systémy. ČVUT Praha.
  • Haasz, V.; Sedláček, M. (2000). Elektrická měření. Přístroje a metody. ČVUT, Praha.
  • Haasz V., Sedláček M. (2000). Elektrická měření, přístroje a metody.. ČVUT Praha.
  • Kainka, B., Berndt, H.J. (2000). Využití rozhraní PC pod Windows - měření, řízení a regulace pomocí standardních portů PC. HEL, Ostrava.
  • Kainka, B.; Berndt, H.J. (2000). Využití rozhraní PC pod Windows. HEL, Ostrava.
  • Pechoušek, J. (2004). Základy programování v LabVIEW. Vydavatelství UP, Olomouc.
  • Silviu, F. (ed). (2011). LabVIEW - Practical Applications and Solutions. InTech, Rijeka.
  • Sydenham, P. Thor, R. (eds). (2005). Handbook of Measuring System Design. Wiley.
  • Šnorek, M.; Richta, K. (1996). Připojování periferií k PC. Grada Publishing, Praha.
  • Tumanski, S. (2006). Principles of Electrical Measurement. Series in sensors. Taylor & Francis, New York.
  • Vedral J. , Fischer, J. (1999). Elektronické obvody pro měřicí techniku. ČVUT Praha.
  • Vlach J. a kol. (2008). Začínáme s LabVIEW. BEN technická literatura, Praha.


Studijní plány, ve kterých se předmět nachází
Fakulta Studijní plán (Verze) Kategorie studijního oboru/specializace Doporučený ročník Doporučený semestr
Fakulta: Přírodovědecká fakulta Studijní plán (Verze): Přístrojová a počítačová fyzika (2019) Kategorie: Fyzikální obory 3 Doporučený ročník:3, Doporučený semestr: Letní