|
Vyučující
|
-
Kubínek Roman, doc. RNDr. CSc.
|
|
Obsah předmětu
|
Skenovací tunelová mikroskopie - STM, princip mikroskopie atomárních sil. AFM, kontaktní režim AFM, nekontaktní režim AFM, periodický režim AFM, MFM-mikroskopie magnetických sil, LFM-mikroskopie příčných sil, další mikroskopické techniky využívající skenující sondy (SPM), SPM-nástroj pro analýzu povrchů, prostředí SPM, skener, konstrukce skeneru, vady skeneru, softwarová korekce, hardwarová korekce, test linearity skeneru, raménka s hroty, vady obrazu, konvoluce hrotu a povrchu, zpětnovazební artefakty, možnosti obrazové analýzy, testování artefaktů, aplikace.
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
Přednášení
- Účast na výuce
- 36 hodin za semestr
|
|
Výstupy z učení
|
Rastrovací tunelovací mikroskopie - STM, AFM. MFM, LFM, SPM, aplikace.
Předmět zaměřený na schopnost zvládnou teoretické základy experimentálních metod a užít je v praxi. Hodnotit konkrétní metody a postupy, vysvětlit aspekty a výsledky týkající se dané problematiky, integrovat poznatky, předpovídat řešení, hodnotit výsledky a formulovat závěry.
|
|
Předpoklady
|
Přednášky z oblastí experimentální fyziky
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
Známkou, Seminární práce
Teoretická znalost metod SMP a jejich praktických aplikací
|
|
Doporučená literatura
|
-
http://atmilab.upol.cz/brozura.html - e-verze učebního textu.
-
Bonnel, D. (2001). Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications. Wiley.
-
Kubínek, R.-Mašláň, M.-Vůjtek, M. (2003). Mikroskopie skenující sondou. UP Olomouc.
-
Meyer E., Hug H. J., Bennewitz R. (2004). Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip by.. Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, New York.
-
Vůjtek, M., Kubínek, R., & Mašláň, M. (2012). Nanoskopie. V Olomouci: Univerzita Palackého.
|