| Název předmětu | Elektronová a rastrovací sondová mikroskopie a jejich aplikace při studiu nanočástic |
|---|---|
| Kód předmětu | KEF/PGSRM |
| Organizační forma výuky | Konzultace |
| Úroveň předmětu | Doktorský |
| Rok studia | nespecifikován |
| Semestr | Zimní a letní |
| Počet ECTS kreditů | 20 |
| Vyučovací jazyk | Čeština, Angličtina |
| Statut předmětu | Povinně-volitelný |
| Způsob výuky | Kontaktní |
| Studijní praxe | Nejedná se o pracovní stáž |
| Doporučené volitelné součásti programu | Není |
| Vyučující |
|---|
|
| Obsah předmětu |
|
Rastrovací tunelovací mikroskopie - STM, princip mikroskopie atomárních sil ? AFM, kontaktní režim AFM, nekontaktní režim AFM, periodický režim AFM, MFM-mikroskopie magnetických sil, LFM-mikroskopie příčných sil, další mikroskopické techniky využívající skenující sondy (SPM), SPM-nástroj pro analýzu povrchů, prostředí SPM, skener, konstrukce skeneru, vady skeneru, softwarová korekce, hardwarová korekce, test linearity skeneru, raménka s hroty, vady obrazu, konvoluce hrotu a povrchu, zpětnovazební artefakty, možnosti obrazové analýzy, testování artefaktů, aplikace.
|
| Studijní aktivity a metody výuky |
| Přednášení |
| Výstupy z učení |
|
Rastrovací tunelovací mikroskopie. AFM, SPM-nástroj pro analýzu povrchů. aplikace.
Předmět zaměřený na schopnost hodnocení Hodnotit konkrétní metody a postupy, vysvětlit aspekty a výsledky týkající se dané problematiky, integrovat poznatky, předpovídat řešení, hodnotit výsledky a formulovat závěry. |
| Předpoklady |
|
nespecifikováno
|
| Hodnoticí metody a kritéria |
|
Známkou
|
| Doporučená literatura |
|
|
| Studijní plány, ve kterých se předmět nachází |
| Fakulta | Studijní plán (Verze) | Kategorie studijního oboru/specializace | Doporučený semestr |
|---|