Předmět: Obecná metrologie

» Seznam fakult » PRF » KEF
Název předmětu Obecná metrologie
Kód předmětu KEF/OMET
Organizační forma výuky Přednáška
Úroveň předmětu Magisterský
Rok studia nespecifikován
Semestr Zimní
Počet ECTS kreditů 2
Vyučovací jazyk Čeština
Statut předmětu Povinně-volitelný, Volitelný
Způsob výuky Kontaktní
Studijní praxe Nejedná se o pracovní stáž
Doporučené volitelné součásti programu Není
Vyučující
  • Kočiščák Jan, Mgr. Ph.D.
Obsah předmětu
1. Měřicí metody, principy měření, dělení metod, charakteristika jednotlivých typů. 2. Měřicí prostředky, měřidla, etalony, referenční materiály. 3. Měřicí zařízení, vlastnosti, kalibrace a ověření, metrologická návaznost. 4. Fyzikální a technické veličiny a jednotky, typy veličin, definice a dělení veličin dle řady norem ČSN ISO 80000, případně ČSN ISO 31. 5. Soustavy jednotek, soustava SI, její vývoj a budoucnost, 6. Základní a odvozené jednotky soustavy SI, dekadické násobky a díly, definice a význam. 7. Mezinárodní metrologický slovník (VIM), definice termínů z oblasti metrologie, jejich význam, anglický překlad.

Studijní aktivity a metody výuky
Přednášení, Metody práce s textem (učebnicí, knihou)
  • Účast na výuce - 26 hodin za semestr
  • Domácí příprava na výuku - 14 hodin za semestr
  • Příprava na zkoušku - 20 hodin za semestr
Výstupy z učení
Cílem je seznámit studenty s obecnými principy metrologie, které jsou společné všem oborům měření, jako jsou fyzikální a technické veličiny a jednotky, jejich soustavy, měřicí prostředky a zařízení, etalony, metrologická terminologie a další.
1 získání znalostí Uvést zaměření obecné metrologie. Pamatovat a definovat základní termíny metrologie. Popsat oblasti působení obecné metrologie.
Předpoklady
nespecifikováno

Hodnoticí metody a kritéria
Ústní zkouška, Písemná zkouška

Docházka během výuky. Znalosti přednášené problematiky ke zkoušce.
Doporučená literatura
  • Prezentace přednášek.
  • řada norem ČSN ISO 31 (pouze platné části, nenahrazené normami ČSN ISO 80000)..
  • řada norem ČSN ISO 80000, Veličiny a jednotky..
  • TNI 01 0115, Mezinárodní metrologický slovník - Základní a všeobecné pojmy a přidružené termíny (VIM).
  • Vyhláška 264/2000 Sb. o základních měřicích jednotkách a ostatních jednotkách.
  • Zákon č.505/1990 Sb. ve znění pozdějších předpisů..
  • Zápisy z přednášek.
  • Kraus J. a kol. (2000). Komentář k novele zákona č.505/1990 Sb.. TECH-MARKET, Praha.
  • Šindelár J. a kol. (1994). Základy obecné metrologie. Edice Základy metrológie, svazek 6. Praha, SNTL.


Studijní plány, ve kterých se předmět nachází
Fakulta Studijní plán (Verze) Kategorie studijního oboru/specializace Doporučený ročník Doporučený semestr
Fakulta: Přírodovědecká fakulta Studijní plán (Verze): Nanotechnologie (2019) Kategorie: Speciální a interdisciplinární obory - Doporučený ročník:-, Doporučený semestr: Zimní
Fakulta: Přírodovědecká fakulta Studijní plán (Verze): Aplikovaná fyzika (2019) Kategorie: Fyzikální obory - Doporučený ročník:-, Doporučený semestr: Zimní